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赛默飞(原FEI)Volumescope 2 扫描电镜
Volumescope 2 3D SEM的性能数据电子光学系统高分辨率场发射 扫描电镜镜筒高稳定性肖特基场发射枪复合末端透镜:静电、无漏磁、浸没式磁透镜复合透镜兼具电磁透镜和静电透镜的双物镜
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赛默飞(原FEI)Aquilos 2 Cryo-FIB冷冻聚焦离子束显微镜
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Helios Hydra 双光束FIB-SEM
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Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜
精心设计,可满足材料科学研究人员和工程师对各种聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 的需求 - 即使是最具挑战性的样品。Helios 5 DualBeam 重新定义了 高分辨率成像的标准:高材
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Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜
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Helios 600 NanoLab FESEM/FIB"双束"显微镜
双束"显微镜">NEMS 器件,也可配备 Helios NanoLab 打造全功能原型。 仪器简介:Helios NanoLab是目前zei强大的场发射扫描(FESEM)+聚焦离子束(FIB)"双束"显微镜系统
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赛默飞(原FEI)Axia ChemiSEM 智能型钨灯丝扫描电镜
产品参数:发射源:预对中钨灯丝分辨率:3.0nm@ 30kV(SE);8.0 nm@ 3kV(SE)放大倍数:5 ~ 1,000,000×(宝丽来相纸放大)加速电压范围:200V ~ 30kV
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Helios 5 PFIB DualBeam聚焦离子束扫描电子显微镜
规格 材料科学规格Helios 5 PFIB CXe DualBeamHelios 5 PFIB UXe DualBeam电子光学系统Elstar 超高分辨率场发射 SEM 色谱柱,具有:浸没
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Helios G4 UX 用于材料科学聚焦离子束电子束双束系统
能量离子进行zei终抛光, 以减少样品表面的损伤。飞氏zei先进的凤凰聚焦离子束 (FIB) 柱不仅在高压下提供高分辨率的成像和铣削, 而且扩展无可匹敌的FIB性能下降到加速电压低至 500V, 创造
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TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)
TESCAN FERA3氙等离子超高速双束FIB系统(XM)分析潜力高亮度肖特基发射可获得高分辨率,高电流和低噪声的图像选配的In-Beam二次电子探头可获取超高分辨率图像三透镜大视野观察
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